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3535日本日置HIOKI3535LCR測試儀3535日本日置HIOKI3535LCR測試儀
高速LCR儀，采樣率可高至120MHz
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- 100kHz～120MHz的寬頻帶
- 高速LCR測試（6ms/采樣）
- 拆卸式前置放大器可選擇
- 為比較標準元件提供補償的“負載補償功能
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不能單獨使用, 測量時需要選擇前置放大器單元和測試冶具或探頭。
輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
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測量參數
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|Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)
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前置放大器
決定的測量量程
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前置放大器
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9700-01
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9700-02
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9700-03
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Z和R
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100mΩ～1kΩ
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500Ω～10kΩ
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5kΩ～100kΩ
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C
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1.33pF～15.9μF
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0.133pF～3.18nF
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0.1pF～318pF
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L
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1nH～1.59mH
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663nH～15.9mH
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6.63μH～159mH
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θ
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-180.00°～180.00°
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測量頻率
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量程
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100kHz～120MHz
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分辨率設置
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4位（使用前控制板設置）
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100.0kHz～1.000MHz
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100Hz幅度
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1.000MHz～10.00MHz
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1kHz幅度
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10.00MHz～100.0MHz
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10kHz幅度
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100.0MHz～120.0MHz
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100kHz幅度
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使用GP-IB或RS-232C接口時，分辨率為1Hz。
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精度
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*大 ± 0.005%，相對于設置值
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測量電平
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開路接口電壓（V）
和恒壓（CV）模式
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5mV～1V,*大20mA(10.000MHz以下)
5mV～500mV,*大10mA（10.01MHz以上）
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分辨率
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1mV幅度
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精度
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±（5%+5mV）×(2+log f)(f為MHz數)
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恒流（CC）模式
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200μA～20mA,*大1V（10.00MHz以下）
200μA～10mA,*大0.5V（10.01MHz以上）
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分辨率
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10A幅度
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精度
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±（10%+50μA）× (2+log f)(f為MHz數)
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基本精度
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Z：± 0.5%rdg. θ：± 0.3°
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輸出阻抗
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50Ω ± 10Ω（100kHz時）
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監視
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電壓 0.000V～1.000V
電流 0.000mA～20.0mA
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限制
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電壓（設置為CC） 0.005V～1.000V
電流(設置為V或CV) 0.20mA～20.00mA
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平均
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關，2，4，8，16，32，64
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觸發
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內置觸發器，外置觸發器
觸發延時 0.01s～9.99s；0.01s分辨率
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比較
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可得到兩組測量參數：百分比，△%，或**值設置（△%即顯示測量值與標準值的偏差）
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控制盤存儲和調用
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*多30組
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屏幕顯示
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測量值和比較器的判斷結果
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顯示線數
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可設置成3，4，或5；根據參數可能有所不同
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打印
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拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446）
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接口
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GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標準)
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操作環境
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10～40°C，*大80%rh，無凝結
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倉儲環境
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-10～55°C，*大80%rh，無凝結
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供電電源
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交流100V～240V，50/60Hz，約50VA
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體積及重量
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約360寬×130高×360厚（mm）；8.3kg
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3535日本日置HIOKI3535LCR測試儀
3535日本日置HIOKI3535LCR測試儀
